Бесплатная библиотека всех действующих ГОСТов
www.docload.spb.ru

Все стандарты, размещенные на этом сайте, не являются их официальным изданием и предназначены исключительно для ознакомительных целей.
Электронные копии этих документов могут распространяться без всяких ограничений. Вы можете размещать информацию с этого сайта на любом другом сайте.
Это некоммерческий сайт и здесь не продаются документы. Вы можете скачать их абсолютно бесплатно!
Содержимое сайта не нарушает чьих-либо авторских прав! Человек имеет право на информацию!

 

ГОСТ Р 8.630-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки

Обозначение:ГОСТ Р 8.630-2007
Статус:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe measuring microscopes. Methods for verification
Дата актуализации текста:22.03.2010
Дата актуализации описания:22.03.2010
Дата введения в действие:01.02.2008
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629.
Межповерочный интервал микроскопа - один год


ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007
ГОСТ Р 8.630-2007

Яндекс цитирования Информационно-справочная система ТЕХНОРМА.РУ
  Copyright © 2008 - 2017, www.docload.spb.ru